抗表皮基底膜抗體概述

抗表皮基底膜抗體測定是診斷類天皰瘡的的特異性標志抗體。用間接免疫熒光檢查，診斷類天皰瘡患者血清中有抗表皮基底膜抗體，主要是IgG。

間接免疫熒光法實驗原理：將熒光素標記在相應的抗體上，直接與相應抗原反應。

第一步，用未知未標記的抗體(待檢標本)加到已知抗原標本上，在濕盒中37℃保溫30min，使抗原抗體充分結合，然后洗滌，除去未結合的抗體。

第二步，加上熒光標記的抗球蛋白抗體或抗IgG、IgM抗體。如果第一步發(fā)生了抗原抗體反應，標記的抗球蛋白抗體就會和已結合抗原的抗體進一步結合，從而可鑒定未知抗體。

• 檢查部位 全身
• 科室 內科
• 相關疾病 天皰瘡 瘢痕性類天皰瘡 大皰性類天皰瘡
• 相關癥狀 膿皰 結節(jié) 潰瘍 瘙癢 囊腫

抗表皮基底膜抗體正常值

• IIF法(間接免疫熒光法)：陰性。

抗表皮基底膜抗體臨床意義

• 陽性： 大皰性類天皰瘡(陽性率70%)，妊娠皰瘡（陽性率20-25%，使用補體固定的間接免疫熒光技術，陽性率可提高到90%），瘢痕性 類天皰瘡（陽性率10-30%，多為低滴度）。 注意：抗體滴度與疾病的活動性不相關。獲得性大皰性表皮松懈癥及大皰性系統(tǒng)性紅斑狼瘡者也可為陽性。

抗表皮基底膜抗體檢查方法

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抗表皮基底膜抗體注意事項

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